产品特点:
本仪器测量各种二端和三端半导体器件特性曲线,测量范围宽,精度高,其性能指标达到美国TEK576。高精度晶体管特性图示仪,0-1500V 0.2A-20A。 发射极电流可测lnA/度-2mA/度。可局部扩展10倍