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数字集成电路IC测试仪

单机操作或PC介面控制,具有“单键测试”功能。对运算放大器及电压比较器提供稳定度、输出位准栘偏移及频率响应之快速功能检测
生产厂商: 美国IST公司 产品型号: IST6500
产品简介: 单机操作或PC介面控制,具有“单键测试”功能。对运算放大器及电压比较器提供稳定度、输出位准栘偏移及频率响应之快速功能检测

 

产品特点:

具有Sorting功能,可将从ATE中淘汰下来的DRAM(含任何封装形式),自动作内部从新组合(将损坏部份之IO线路Disable),即可再使用。
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内建有可设定的动态负载(dynamicloading)及双临界值、超快速之比较器,对于测试中常须驱动资科汇流排上高电容及低电阻负载时,相当有用。
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提供基本型、加强型、快检型及自行定义型的测试圆形(testpatterm)
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对工作电流(1ccl),备用电流(1cc2)及资料保持电流(1dr)提供了精确的量测及GONOGO测试。广大的测试范围之种类:记忆容量范围从4K x 1-l6Mx11K x 4-4M x 42K x 8-512K x8SIMM之脚数有30pin64pin72pin200pin。适用封装方式DIP.ZIP.SOJ.SIP.PLCCTSOP
·DRAM
的动态参数Trad.Trcd(解析度为1ns)及刷新间隔完全可依电路的要求来设定,此实时的功能测试,避免了在仪器上测诚是好的,但实际在工作中却是坏的困扰。
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主机采用插入式模块设计,可随时做功能提升
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DRAMSIMMSRAMPCMCIA卡提供实时的功能分析测试。
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具有2ns解析度及多种测量模式的精准存取时间量测(TaceTaa
Trac
Tcac)
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使用DMA

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