半导体分离器件测试仪BJ2984

产品特点：

本仪器可对各种类型硅PNP及NPN型晶体三极管的瞬态热阻参数进行快速测量。选取被测管发
射结正向压降VBE作为温度热敏参数，利用特定条件下VBE的温度系数M曲线之聚交特性，实现了不用恒温槽系统的M参数单点快速测试；测量对被测管施加1MS~1S的单次功率脉冲前后VBE的变化△VBE，即可得到被测管的瞬态热阻参数。本仪器的M及△VBE数值均由数字电压表自动显示。
当给被测管施加1S~5000S的单次功率脉冲并同时测量其壳温时，本仪器亦可用于测量各类晶体三极管的稳态热阻参数。本仪器的配套电源为本厂生产的WD-9型晶体管稳压电源。

技术指标：
（1） 测试功率：0~750W（100W、5A或是300V、2.5A）
（2） VBE电压：0~300V连续可调
分两档：1~100V（5A）   0~300V（2.5A）   误差≤±3% 
（3） IE电流0~5A连续可调
分两档：0~1A，   0~5A。    误差≤±3%
（4） M数字电压表：0~ —4.00（mV/℃）
（5） △VBE数字电压表：0~999（mV）
（6） 功率脉冲脉宽τ：1mS~1000S
分七档：1mS，10 mS，100 mS，